溫度的測量方法大致可分為兩種：接觸法和非接觸法。在接觸測溫法中，熱電偶和熱電阻溫度應用最為廣泛，該方法的優(yōu)點(diǎn)是設備和操作簡(jiǎn)單，測得的是物體的真實(shí)溫度等，其缺點(diǎn)是動(dòng)態(tài)特性差，由于要接觸被測物體，所以對被測物體的溫度分布有影響，且不能應用于甚高溫測量。非接觸測溫法主要以輻射測溫法為主。由于光譜發(fā)射率的影響，輻射測溫法無(wú)法測量到物體的真實(shí)溫度，只是分別為亮度溫度、顏色溫度、輻射溫度等。若想知道被測目標的真實(shí)溫度，就需要對上述溫度進(jìn)行發(fā)射率修正，以往所采用的方法主要有發(fā)射率修正法、逼近黑體法、輔助源法、偏振光法。
瞬態(tài)多光譜輻射光學(xué)測溫系統是以普朗克熱輻射理論為基礎，將待測光源的輻亮度與標準光源的輻亮度進(jìn)行比較，從而測得待測光源溫度的一種光學(xué)儀器。是研究等離子體、沖擊波物理、爆轟物理和燃料燃燒過(guò)程、發(fā)動(dòng)機瞬態(tài)爆燃爆震過(guò)程的重要設備。主要用于動(dòng)載荷下瞬態(tài)高溫測量(1000℃～6000℃)，如燃料爆轟沖擊波溫度、燃料燃燒溫度、材料的沖擊溫度、定容彈爆燃過(guò)程、卸載溫度等的測量；也可用于其他瞬態(tài)超高溫度的測量；也可測量高壓下材料的其它參數，如測量沖擊波或稀疏波到達物質(zhì)界面的時(shí)間，以確定其沖擊波速度及高壓卸載聲速；還可用于測量爆炸溫度場(chǎng)的溫度。
多光譜測溫技術(shù)是測量高溫物體的有效手段,而測溫儀器的標定的重要性如同儀器制造本身,針對高溫區的測溫儀器精度更是依賴(lài)于準確的標定.基于多光譜測溫理論的分光式測溫系統,能夠完成VNIR波段的光譜采集,以及CCD輔助對準的功能,但由于自制接收系統的波長(cháng)選擇性,需要對其進(jìn)行標定.通過(guò)高溫黑體爐提供標定溫度,運行測溫系統樣機以整度標定的方法取得輻射強度曲線(xiàn),結合普朗克理論溫度曲線(xiàn)得出系統響應函數,并在解算過(guò)程中將該響應函數用于修正所測得的所有溫度點(diǎn)輻射曲線(xiàn),擬合理論溫度曲線(xiàn),使測量結果更準確.
